CAMSIZER X2是一款功能強(qiáng)大、用途極其廣泛的粒度粒形分析儀，其測量范圍寬，結(jié)合了最先進(jìn)的雙CCD鏡頭技術(shù)和靈活的分散模塊選項(xiàng)?；趧討B(tài)圖像分析原理（ISO 13322-2），CAMSIZER X2可在0.8μm至8 mm的測量范圍內(nèi)提供粉末、顆粒和懸浮液的精確粒度粒形信息。

CAMSIZER X2產(chǎn)生的顆粒流，通過具有高分辨率光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行表征。一個(gè)超亮LED頻閃光源和兩個(gè)高分辨率數(shù)碼相機(jī)，可以達(dá)到每秒300多張圖像的幀速率，并通過強(qiáng)大的軟件進(jìn)行實(shí)時(shí)評估。因此，CAMSIZER X2可以在1到3分鐘內(nèi)以最高的精確度捕捉數(shù)十萬到數(shù)百萬個(gè)顆粒的圖像。

CAMSIZER X2提供了廣泛的顆粒信息選項(xiàng)，實(shí)現(xiàn)對樣品材料進(jìn)行全面和可靠的表征。它適用于研發(fā)和日常質(zhì)量控制。

 

顆粒分析儀 CAMSIZER X2

采用動態(tài)圖像法(ISO 13322-2）分析0.8 μm 到 8 mm之間的顆粒粒徑粒形信息。

寬粒徑分布樣品的精確分析

對于窄分布及多峰分布樣品具有極佳的分辨率

微量過大或過小顆粒都能夠準(zhǔn)確檢測

結(jié)果完全可以和篩分及激光粒度儀結(jié)果進(jìn)行比對

分析評估選項(xiàng)豐富（不同粒徑定義的粒徑參數(shù)，多種粒形參數(shù)，顆粒圖庫，單張顆粒圖像分析等）

重現(xiàn)性非常好

典型測量時(shí)間1-3min，可測試樣品量大

“X-Change“分散模塊切換系統(tǒng)，適合干法和濕法測量

超強(qiáng)LED光源及高分辨率相機(jī)以獲得最清晰的結(jié)果

操作簡單，幾乎免維護(hù)

 

Microtrac MRB獨(dú)特的雙鏡頭技術(shù)是動態(tài)圖像分析發(fā)展的里程碑。通過同時(shí)使用兩個(gè)不同放大倍數(shù)的相機(jī)，獲得了極寬的動態(tài)測量范圍。這是在沒有硬件調(diào)整或修改的情況下完成的，并且不會影響精度。每個(gè)鏡頭專用于一個(gè)測量范圍。 放大鏡頭以最高的精度分析細(xì)顆粒，而基準(zhǔn)鏡頭以極好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)檢測較大的顆粒。一個(gè)特殊的算法結(jié)合了兩個(gè)相機(jī)提供的信息，并在測量范圍內(nèi)提供精確的粒徑分布，已有三十多年！ 這種設(shè)計(jì)解決了許多圖像分析系統(tǒng)一個(gè)重大的缺點(diǎn)，只使用一個(gè)鏡頭，如顯微鏡。這種儀器要么在寬粒徑分布范圍內(nèi)，不能正確地測量細(xì)顆粒，要么由于視野小而無法準(zhǔn)確捕獲大顆粒。

 

測量原理

在測量過程中，雙CCD鏡頭同時(shí)工作：基準(zhǔn)鏡頭（藍(lán)色）分析較大的顆粒，放大鏡頭（紅色）捕捉較小的顆粒。雙CCD鏡頭技術(shù)可確保粒度分布中所有顆粒的最佳測量條件。

 

X-CHANGE模塊切換系統(tǒng)

在顆粒通過測量區(qū)域之前，正確的樣品制備和顆粒分散與實(shí)際分析測量一樣重要。特別是對于容易團(tuán)聚的細(xì)粉顆粒，充分分散對測量結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。因此，不同的進(jìn)樣方式有助于在不破壞單個(gè)顆粒的情況下實(shí)現(xiàn)團(tuán)聚體的分散。我們的X-Change分散模塊切換系統(tǒng)完美地滿足了這一要求。

精心設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)最大靈活性

CAMSIZER X2的模塊化“X-Change”系統(tǒng)提供三種可選分散方法，允許為每種樣品類型選擇最佳分散方法：壓縮空氣分散X-jet、重力分散X-Fall、濕法分散X-Flow。模塊化及插拔式設(shè)計(jì)，允許在一分鐘內(nèi)方便安全快速地交換分散模塊。

通過壓縮空氣分散

X-Jet分散模塊通過文丘里噴嘴分散樣品，適用于粉末的有效分析。顆粒的實(shí)際測量發(fā)生在氣流中。分散壓力可設(shè)置在0 kPa和460 kPa之間。這確保了所有樣品類型的最佳分析條件。

在液體中分散

CAMSIZER X2還提供了使用X-Flow分散模塊分析液體中顆粒的選項(xiàng)。懸浮液在一個(gè)閉環(huán)中流過一個(gè)玻璃樣品池，通過鏡頭記錄顆粒圖像。集成超聲系統(tǒng)有助于進(jìn)一步分散過程。

通過重力分散

X-Fall分散模塊可用于敏感樣品的無損測量，以盡量減少自由落體過程中顆粒破碎。分析后可回收樣品。

X-JET壓縮空氣分散

由于表面作用力，許多材料容易團(tuán)聚。在通過文丘里噴嘴時(shí)，X-Jet模塊有效地分散氣流中的顆粒。分散壓力可根據(jù)單個(gè)顆粒的需要設(shè)置。例如，對于易碎顆粒，減壓可確保無損測量。通過測量區(qū)域后，樣品由真空吸塵器自動從分析儀中取出。

X-FLOW濕法分散模塊測量

X-Flow濕法分散模塊分析0.8μm至1 mm粒徑范圍內(nèi)的懸浮液。樣品在從分散槽到流動池的閉環(huán)內(nèi)移動，在樣品池中，雙CCD相機(jī)系統(tǒng)捕捉顆粒圖像。X-Flow分散模塊配有超聲波浴和強(qiáng)大的離心泵，以確保高效分散。適合的分散介質(zhì)是水、乙醇以及非極性有機(jī)溶劑。

X-FALL重力分散模塊

使用X-Fall模塊可以分析流動的、不易團(tuán)聚的樣品。這種測量是無損的，因?yàn)轭w粒通過視野直接從斜槽落下。X-Fall適用于粒徑最高可達(dá)8 mm的顆粒；對過大顆粒的檢測靈敏度極高。與壓縮空氣分散不同的是，X-Fall測量后樣品可以回收

 

僅僅圖像分析法可以提供粒形信息

散體材料的密度、流動性、緊實(shí)性、輸送特性和表面狀況等性能受顆粒形狀的影響。這使得這些參數(shù)成為許多應(yīng)用領(lǐng)域的關(guān)鍵工藝和質(zhì)量指標(biāo)。

舉例:

磨料的棱角度

顆粒破碎組分分析

玻璃微珠中聚集顆粒測量

增材制造用高分子或金屬粉末顆粒的圓度分析（直接影響流動性和包裝密度）

針狀晶體的長度和直徑

對砂粒的圓度進(jìn)行分析，以評估其作為建筑材料或支撐劑的可使用性，或用于地質(zhì)檢查

各種參數(shù)可用于形狀量化。其中包括寬長比（縱橫比）、圓度（由面積周長比計(jì)算得出）、對稱性、凹凸度和緊密度。圓度是從顆粒角的曲率計(jì)算出來的。

 

可與篩分儀及激光粒度儀結(jié)果比對

僅對于球形顆粒，“粒徑”定義是明確的：直徑在所有方向和取向上相同。但是，對于非球形粒子，粒徑可能會發(fā)生很大變化，這取決于測量的方向和取向。例如，傳統(tǒng)的篩分分析是將篩孔大小不同的金屬絲網(wǎng)篩上的顆粒分離成不同的組分。 顆粒能通過的最小篩孔由顆粒的最小投影面確定。因此，篩分分析測量優(yōu)先取向的顆粒，并提供主要基于顆粒寬度的信息。激光粒度儀將所有測量數(shù)據(jù)與球形顆粒模型的直徑聯(lián)系起來。只有圖像分析法可以準(zhǔn)確同時(shí)提供不同粒徑定義的粒度信息。這使得測量結(jié)果可與其他技術(shù)獲得的結(jié)果相比較。 動態(tài)圖像法的突出優(yōu)點(diǎn)是可以同時(shí)測量顆粒的寬度和長度，并根據(jù)這些參數(shù)提供粒度分布。顆粒寬度（紅色曲線）很容易與篩分分析結(jié)果進(jìn)行比對。

 

可選配件

Microtrac MRB為特殊應(yīng)用提供各種料斗和料槽。分散噴嘴和樣品池有不同的孔徑大小，以確保每次測量的最佳條件。CAMSIZER X2校準(zhǔn)只需一分鐘，可以使用高精度參考校正板進(jìn)行。

漏斗和降落裝置

為了成功測量干粉，必須將樣品連續(xù)均勻地輸送到分析儀中。為了達(dá)到最佳的進(jìn)料條件，即使是易黏附粉體，我們可提供由不銹鋼或鋁硬質(zhì)涂層制成的不同進(jìn)樣料斗。根據(jù)設(shè)計(jì)，X-Jet模塊的進(jìn)樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet模塊料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷，可以進(jìn)一步均勻粉末流。 為了成功測量干粉，必須將樣品連續(xù)均勻地輸送到分析儀中。為了達(dá)到最佳的進(jìn)料條件，即使是易黏附粉體，我們可提供由不銹鋼或鋁硬質(zhì)涂層制成的不同進(jìn)樣料斗。根據(jù)設(shè)計(jì)，X-Jet模塊的進(jìn)樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷，可以進(jìn)一步均勻粉末流。

進(jìn)樣漏斗可方便地將樣品引入進(jìn)料裝置。漏斗可由鋁或不銹鋼制成，最多可容納0.6升樣品。

分散噴嘴

X-jet模塊有不同尺寸的噴嘴可供選擇使用. 標(biāo)準(zhǔn)噴嘴孔尺寸為14 mm x 4 mm，適合大多數(shù)樣品分析。對于特別大或特別小的顆粒，其它尺寸的噴嘴會有一些優(yōu)勢。

參照物

Camsizer標(biāo)準(zhǔn)校正板由電子平板印刷技術(shù)制得，可以隨時(shí)提供可靠便捷的校正服務(wù)。

防護(hù)罩 (X-JET, X-FALL)

防護(hù)罩可防止灰塵在測量過程中釋放到環(huán)境中。對于不應(yīng)長時(shí)間暴露在環(huán)境空氣中的樣品，可使用惰性氣體進(jìn)行沖洗。此外，防護(hù)罩可將噪音水平降低5分貝以上。防護(hù)罩由有機(jī)玻璃制成，可與X-Dry模塊一起使用。

測量池（X-FLOW）

X-Flow模塊有三種優(yōu)質(zhì)的石英玻璃流通池可供選擇使用。流通池的間隙寬度有4mm（標(biāo)準(zhǔn)）、2mm或者1mm。

自由落體軸（X-FALL）

對于X-Fall模塊，標(biāo)準(zhǔn)尺寸為7 mm X 14 mm，對于較大顆粒，可使用14 mm X 14 mm的自由落體模塊。

 

擴(kuò)大測量范圍

由于專利雙CCD鏡頭系統(tǒng)，單次測量包含所有量程，無需手動調(diào)整。

 

X-Fall (重力分散)

標(biāo)準(zhǔn)量程: 10 μm -3 mm

可選量程: 10 μm - 8 mm

 

X-Jet (空氣壓力分散)

標(biāo)準(zhǔn)量程: 0.8 μm-1.5 mm

可選量程: 1 μm - 5 mm

 

X-Flow (濕法分散)

標(biāo)注量程: 0.8 μm - 1 mm

 

1) X-Fall的下限取決于樣品的特性（團(tuán)聚與否），易團(tuán)聚樣品推薦使用X-Jet或X-Flow模塊。

2) X-Flow模塊的測量上限取決于樣品的密度，對于密度上限是2.5g/cm3的樣品來說600μm是標(biāo)準(zhǔn)極限。

纖維和拉伸狀樣品可定制量程。

 

實(shí)時(shí)的顆粒分析 —— 一切盡在 DIMENSIONS 軟件掌控之中

DIMENSIONS 軟件包括四個(gè)結(jié)構(gòu)清晰的工作區(qū)，分別是方法建立、測量運(yùn)行、結(jié)果展示和結(jié)果對比的計(jì)算。 單個(gè)工作區(qū)可以與軟件分離，例如，轉(zhuǎn)移到第二臺顯示器，讓您完全控制所有相關(guān)流程和參數(shù)。 結(jié)果計(jì)算的工作區(qū)在測量期間仍然可以使用。

 

優(yōu)勢

簡單的方法開發(fā)

結(jié)構(gòu)清晰的結(jié)果展示

多種計(jì)算選項(xiàng)

 

典型應(yīng)用

顆粒材料的許多特性，如流動性、溶解性、過濾效率、反應(yīng)性、耐磨性和口感等，都受到顆粒大小的顯著影響。因此，在許多不同的行業(yè)中，粒度測定通常被用作質(zhì)量控制的一部分。

 

金屬和礦物粉末

水泥

化學(xué)制品

活性炭

清潔劑

建筑原料

 

藥粉/顆粒/制劑

玻璃 / 玻璃珠

塑料光纖

塑料粉末

木質(zhì)纖維

 

食物

鹽 / 糖

耐火材料

研磨劑

沙子

 

... 還有更多

 

作用原理

Camsizer X2 采用專利數(shù)字成像體統(tǒng)：分散樣品經(jīng)過LED光源前方，投影被雙CCD鏡頭捕捉，放大鏡頭分析小顆粒，基礎(chǔ)鏡頭統(tǒng)計(jì)整個(gè)顆粒分布。軟件界面友好，可同時(shí)分析每一個(gè)顆粒的粒度和粒形信息，最終經(jīng)過軟件計(jì)算后給出實(shí)時(shí)分布曲線。