QATM Qness 60 EVO系列將顯微硬度測(cè)試帶到一個(gè)新的高度: 最新一代高端實(shí)驗(yàn)室設(shè)備將兩大功能完美結(jié)合在一起–硬度測(cè)試和顯微分析，實(shí)現(xiàn)最大的操作便利性。配備彩色攝像頭的革命性的光學(xué)系統(tǒng)提供了可重現(xiàn)的和可靠的測(cè)試結(jié)果。M型號(hào)手動(dòng)進(jìn)行操作并為任意尺寸的工件提供單樣品測(cè)試和金相分析的高度靈活性。該型號(hào)適合樣品數(shù)量不多但需要高質(zhì)量測(cè)試設(shè)備的應(yīng)用場(chǎng)合。

 

優(yōu)點(diǎn)

寬泛的試驗(yàn)力范圍 (0.25 g – 62.5 kg)

包括ASTM+DAkkS認(rèn)證的維氏金剛石壓頭

8位動(dòng)態(tài)測(cè)試轉(zhuǎn)塔

帶有電動(dòng)光圈快門的白色LED燈

Qpix Control2 M軟件，包括INSPECT金相顯微分析功能

可通過手動(dòng)XY載物臺(tái)擴(kuò)展

帶有數(shù)據(jù)反饋的數(shù)字XY載物臺(tái)

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

硬度測(cè)試模塊載荷范圍從0.25g到62.5kg – 包含ASTM & DAkkS-認(rèn)證的維氏金剛石壓頭

3個(gè)型號(hào) - 從半自動(dòng)(M)到全自動(dòng)(A/A+)應(yīng)用

堅(jiān)固耐用的設(shè)備 – ‘奧地利制造’

可上下移動(dòng)的測(cè)試頭，減震的鑄件支架配合陽極氧化的鋁合金噴涂外漆。

全自動(dòng)測(cè)試循環(huán): 閉環(huán)力值傳感器加載

 

雙Z軸的垂直控制概念

沿雙Z軸分配的垂直運(yùn)動(dòng)具有決定性的優(yōu)勢(shì)。 通過第一個(gè)Z軸進(jìn)行動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng)控制，使壓頭能夠以30mm/s的速度方便快捷地朝著測(cè)試表面定位。QATM系統(tǒng)中額外的第二個(gè)Z軸控制，提供了高分辨率的定位系統(tǒng)，可以在施加力和聚焦時(shí)實(shí)現(xiàn)更高的精度。

 

基本功能全面

幾個(gè)友好省力的功能已經(jīng)包括在QATM的基本模塊中：

優(yōu)化的自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)

自動(dòng)亮度調(diào)節(jié)

通過多種評(píng)估模式對(duì)硬度測(cè)試進(jìn)行自動(dòng)圖像評(píng)估

內(nèi)置協(xié)議生成器

 

維氏/努氏/布氏顯微硬度計(jì)QNESS 60 M EVO硬度計(jì)還是顯微鏡？?jī)烧叨际恰?/span>

革命性的光學(xué)系統(tǒng)

由QATM研發(fā)的，內(nèi)部制造的光鏡系統(tǒng)設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。除了為硬度測(cè)試提供清晰的圖像質(zhì)量外，通過使用LED白光Koehler照明以及自動(dòng)孔徑光闌從而實(shí)現(xiàn)理想的對(duì)比度，確保即使是高倍下取得的圖像也是如此。經(jīng)過色彩校正的高質(zhì)量鏡片系列可用于結(jié)構(gòu)分析。同樣這里有兩種攝像頭可供選擇。經(jīng)驗(yàn)豐富的材料學(xué)家同意Qness 60 EVO提供的圖像質(zhì)量在各個(gè)方面都可以與成熟的精密顯微鏡相媲美。光學(xué)系統(tǒng)中的最新概念和新鏡頭使該設(shè)備完全符合DIN EN ISO6507-1/2:2018的最嚴(yán)格的物理“測(cè)試系統(tǒng)定義”要求。

8位轉(zhuǎn)塔

超現(xiàn)代的轉(zhuǎn)塔設(shè)計(jì)最多可以搭配總共8個(gè)不同的測(cè)試壓頭或者物鏡。緊湊的20°傾角結(jié)構(gòu)，確保了出色的測(cè)試空間可見性。 亮點(diǎn)：新開發(fā)的硬度測(cè)試模塊用作模塊化壓頭支架，可隨時(shí)在設(shè)備上對(duì)布氏和努氏壓頭進(jìn)行即插即用的改造。

交互式測(cè)試軟件適用于所有版本

Qpix Control 2是硬度測(cè)試設(shè)備上超現(xiàn)代軟件操作的先驅(qū)，并且已擴(kuò)展到囊括了用于長(zhǎng)度和角度的智能測(cè)量工具。它非常適合建立模板，也同樣適用于焊接測(cè)試（A / A +型號(hào)）。此外，選配的金相軟件模塊可以完美的和基礎(chǔ)軟件本身集成在一起。

相分析

層厚測(cè)量

晶粒度評(píng)估

 

工作狀態(tài)發(fā)光顯示

給“黑暗”帶來光明的科技感

發(fā)光的QATM標(biāo)識(shí)可以讓人一眼識(shí)別設(shè)備當(dāng)前的狀態(tài)。閃爍的間隔范圍不同表明了機(jī)器是處于自動(dòng)操作狀態(tài)還是可以隨時(shí)準(zhǔn)備開始為整個(gè)實(shí)驗(yàn)室的人員進(jìn)行新的硬度測(cè)試。除此之外，作為標(biāo)準(zhǔn)的配置，LED測(cè)試空間照明不僅有利于確保樣品和夾具的正確裝夾，在A+的版本中，它也是樣品成像時(shí)光照均勻的保證。

維氏/努氏/布氏顯微硬度計(jì)QNESS 60 M EVO多種功能完美融合在同一設(shè)備中

最大化的多功能性

對(duì)所有尺寸的樣件進(jìn)行單個(gè)試樣測(cè)試或者有限的序列測(cè)試都非常卓越： 簡(jiǎn)單的操作性和可選的顯微鏡附件使QATM Qness 60M EVO 成為獨(dú)特的、高質(zhì)量的多位一體機(jī)型。

帶有數(shù)據(jù)反饋的數(shù)字XY載物臺(tái)

可執(zhí)行多個(gè)預(yù)設(shè)固定測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試程序。如果需要，還可以通過手動(dòng)載物臺(tái)，數(shù)顯千分尺和定位反饋 – 用于手動(dòng)CHD程序。

測(cè)試空間照明

所有的配置都裝備了新的LED空間照明，簡(jiǎn)化了對(duì)于單個(gè)樣品的測(cè)試定位。

QPIX CONTROL2 M軟件

Qness 60 M EVO包含直觀操作軟件的Qpix Control2 M，可提供針對(duì)半自動(dòng)硬度測(cè)試設(shè)備的要求而定制的復(fù)雜功能?？梢郧逦亟M織批次管理，有效利用多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的模板，測(cè)試結(jié)果的結(jié)構(gòu)和完整的項(xiàng)目背景信息。易于生成的模板包括有關(guān)測(cè)試模式，測(cè)試方法，項(xiàng)目名稱和用戶字段詳細(xì)信息的所有必需信息。

 

QPIX 金相分析軟件模塊

直觀用戶友好的Qpix INSPECT分析軟件為顯微測(cè)量和結(jié)果文檔提供全面的工具箱。該多功能軟件可以根據(jù)客戶特定的測(cè)量任務(wù)進(jìn)行定制并補(bǔ)充附加模塊。

相分析

自動(dòng)圖像對(duì)象尺寸標(biāo)注

根據(jù)ISO9042和ASTM E562標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各相所占比率的評(píng)估測(cè)量

以百分比比例提供表面分析結(jié)果或以表格或線圖的形式提供標(biāo)稱表面值

層厚度測(cè)量

根據(jù)DIN EN ISO 1463標(biāo)準(zhǔn)確定層厚度

半自動(dòng)測(cè)量水平、垂直和弧度層。

以表格或線圖的形式提供層厚度的統(tǒng)計(jì)值。

晶粒度分析

根據(jù)DIN ISO 643和ASTM E112標(biāo)準(zhǔn)，通過線截面或圓截面方法確定晶粒度

以表格或線圖的形式提供分析結(jié)果

對(duì)晶粒度和穿過晶粒的段長(zhǎng)度進(jìn)行統(tǒng)計(jì)特征值分析

維氏/努氏/布氏顯微硬度計(jì)QNESS 60 M EVO個(gè)性化配置

實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)

從綜合的QATM實(shí)驗(yàn)室家具范疇來配置和優(yōu)化您的實(shí)驗(yàn)室工作場(chǎng)所。 亮點(diǎn)：極度富有彈性的QATM工作臺(tái)帶有電動(dòng)的高度調(diào)節(jié)，從人體工程學(xué)的角度適用于和最多帶有兩個(gè)顯示器的Qness 60 EVO搭配使用并提供內(nèi)置線纜管理。

優(yōu)質(zhì)硬度塊

提供品種全面的優(yōu)質(zhì)硬度塊。根據(jù)DIN EN ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行獨(dú)立的DAkkS（ISO/IEC 17025）校準(zhǔn)，包含符合標(biāo)準(zhǔn)的周期性測(cè)試軟件。